GaN PA加速老化测试机

       加速老化测试是评估IC可靠性的一项关键性基础测试，它采用电应力加速的方式模拟器件的长期运行。因为测试中应用的电激励反映了器件工作的最坏情况，使用测试过程基本上模拟运行了器件的整个使用寿命。

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