派格射频测试机是专为射频芯片测试而设计的自动化测试设备，广泛应用于射频前端模块 (RFFEM)、射频收发器、功率放大器 (PA)、低噪声放大器 (LNA) 等射频芯片、模组的实验室和量产测试环节。 派格射频测试机应用领域广泛，包括但不限于：移动通信、物联网、无线局域网等。
射频测试机
X420 时钟芯片测试机
专为时钟芯片测试设计的旗舰机，支持高性能时钟芯片测试，性能经过市场考验，拥有行业领先的测试速度和测试能力。
测试产品：时钟缓冲器/频率合成器/锁相环
测试模式：1-site测试/2-site串测
RF端口数：12/18/24/32个
频率范围：1MHz~26GHz
最大输入功率：15dBm
特点：低相噪，高精度，高速度
通讯协议：SECS/GEM
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典型指标
测试项目
| 测试产品：时钟缓冲器/频率合成器/锁相环 | 测试模式：1-site测试/2-site串测 |
RF端口数：12/18/24/32个 | 频率范围：1MHz~26GHz |
最大输入功率：15dBm | 特点：低相噪，高精度，高速度 |
通讯协议：SECS/GEM |