派格混合信号测试机是专为混合信号芯片测试而设计的自动化测试设备，广泛应用于模数转换器 (ADC) 和运算放大器等芯片的实验室测试以及量产测试环节。 派格混合信号测试机应用领域广泛，包括但不限于：数据采集系统、传感器接口、音频处理、精密仪器、工业控制、医疗设备等。
混合信号测试机
X610 ADC 芯片测试机
专为ADC测试设计的测试机台，覆盖高速、低速，高精度ADC测试需求，支持LVDS和204B接口，满足大规模量产测试需求。
测试产品：高速ADC芯片/高精度ADC芯片
测试模式：1-site测试
模拟通道数：8路模拟通道
数字通道数：64路数字通道
最高采样率：最高3GHz
数据传输方式：LVDS/204B/SPI
通讯协议：SECS/GE
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典型指标
测试项目
测试产品：高速ADC芯片/高精度ADC芯片 | 测试模式：1-site测试 |
模拟通道数：8路模拟通道 | 数字通道数：64路数字通道 |
最高采样率：最高3GHz | 数据传输方式：LVDS/204B/SPI |
通讯协议：SECS/GE |